产品简介
3v光谱仪-金属表面镀层测厚仪,镀层厚度检测仪器
3v光谱仪-金属表面镀层测厚仪,镀层厚度检测仪器
产品价格:¥108000
上架日期:2021-07-12 13:42:14
产地:江苏苏州
发货地:江苏苏州
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详细说明

    3V仪器-EDX6000E金属镀层测厚仪 多镀层厚度检测分析】

    专业供应镀层测厚仪,金属镀层测厚仪,应对镀锌层、镀锡层、镀镉层、镀铬层、镀铜层、镀铅层、镀铜锡合金等等。

    1.6 技术性能及指标:
                   1.6.1  元素分析范围从硫(S)到铀(U)
                   1.6.2  元素含量分析范围为 1PPm 到 99.99%

                   1.6.3  测量时间:60-200 秒

                   1.6.4  检测限度达 1PPM

                   1.6.5  能量分辨率为 149±5 电子伏特

                   1.6.6  温度适应范围为 15℃至 30℃

                   1.6.7  电源:交流 220V±5V(建议配置交流净化稳压电源)
             

            1.7 产品特点:

    ● EDX6000E 是针对镀层测厚设计的一款产品

     

    ● 打破传统仪器直线的设计,采用流线体的整体化设计,仪器时尚大方

     

    ● 采用美国新型的 Si-PIN 探测器,电致冷而非液氮制冷,体积小、数据分析准确,维护成本低

     

    ● 采用自主研发的 SES 信号处理系统,有效提高测量的灵敏度,让测量更精确

     

    ● 一键式自动测试,使用更简单,更方便,更人性化

     

    ● 七种光路校正准直系统,根据不同样品自动切换

     

    ● 多重防辐射泄露设计,辐射防护级别优于同类产品。

     

    ● 一体化散热设计,使整机散热性能得到极大提高,保证了核心部件的运行安全

     

    ● 机芯温控技术,保证 X 射线源的安全可靠运行,有效延长其使用寿命,降低使用成本

     

    ● 多重仪器配件保护系统,并可通过软件进行全程监控, 让仪器工作更稳定、更安全

     

    ● 专用测试软件,标准视窗设计,界面友好,操作方便

     

    ● 本机采用 USB3.0 接口,有效地保证了数据准确高速有效的传输


    3V仪器-EDX6000E金属镀层测厚仪 多镀层厚度检测分析】

    2.仪器硬件部分主要配置

    2.1 Si-PIN 电制冷半导体探测器

    2.1.1 Si-PIN 电制冷半导体探测器;分辨率:149±5 电子伏特

     2.1.2 放大电路模块:对样品特征 X 射线进行探测;把探测采集的信息,进一步放大

    2.2 X 射线激发装置

    2.2.1 灯丝电流输出:1mA

    2.2.2 属于半损耗型部件,使用寿命达 20000 小时

    2.3 高低压电源

    2.3.1 电压输出: 50kV

    2.3.2  5kv 可控调节

    2.3.3 自带电压过载保护

    2.4 多道脉冲幅度分析器

    2.4.1 将采集的模拟信号转换成数字信号,并将处理结果提供给上位机软件

    2.4.2 道数: 4096

    2.4.3 包含信号增强处理


    2.5 光路过滤模块
          2.5.1 降低 X 射线光路发送过程中的干扰,保证探测器接收信号准确

    2.5.2 将准直器与滤光片整合


    2.6 准直器自动切换模块

    2.6.1 多达 7 种选择,口径分别为 8-1#, 8-2#, 8-3#, 4#,2#, 1#, 0.5#
      2.7 滤光片自动切换模块

    2.7.1 五种滤光片的自由选择和切换


          2.8 准直器和滤光片的自由组合模块

    2.8.1 多达几十种的准直器和滤光片的自由组合

           2.9 工作曲线自动选择模块

    2.9.1 自动选择工作曲线,摒弃手动选择,避免人为操作失误,将自动化和智能化 操作得
    更轻松,使操作更人性,更方便
    3. 专用软件配置
      3.1 专用 镀层分析软件
          3.1.1 专门针对镀层检测而开发,对采集的光谱信号进行数据处理、计算并报告
                   显示测量结果

     

     

    3.3 专用 FP 金属镀层分析软件

    3.3.1 元素分析范围:从硫(S)到铀(U)

    3.3.2 一次可同时分析 3 层以上镀层

    3.3.3 分析检出限可达 0.1μm

    3.3.4 分析厚度一般为 0.1μm 到 30μm 之间

    3.3.5 多次测量重复性可达 0.1μm(对于小于 1μm 的最外层镀层)

    3.3.6 长期工作稳定性为 0.1μm(对于小于 1μm 的最外层镀层)

    3.3.7 配置小孔准直器,测试光斑在 0.2mm 以内

    3.3.8 探测器能量分辨率为 149±5eV

    3.3.9 应用领域:金属电镀层厚度的测量,如 Zn/Fe、Ni/Fe、Ni/Cu、Sn/Cu、Ag/Cu 等

     
    3V仪器-EDX6000E金属镀层测厚仪 多镀层厚度检测分析】

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