薄膜拨片测厚仪测试薄膜薄片隔膜厚度简介：

塑料包装材料厚度是否均匀是检测其各项性能的基础。包装材料厚度不均，会影响到阻隔性、拉伸强度等性能；对材料厚度实施高精度控制也是确保质量与控制成本的重要手段。

    赛成薄膜测厚仪CHY-CA介绍：

CHY-CA薄膜测厚仪，又称为测厚仪、薄膜厚度检测仪、薄膜厚度仪等。CHY-CA薄膜测厚仪专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

    CHY-CA薄膜薄片测厚仪符合多项国内相关测试标准：

YBB00332002-2015  低硼硅玻璃安瓿

ISO 4593-1993塑料 薄膜和薄板 机械扫描测定厚度标准；

GB/T6672-2001 塑料薄膜与薄片厚度的测定 机械测量法；

GB T 451.3-2002 纸和纸板厚度的测定 标准；

GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702等等标准规定核试验。

测试范围 ：0～2 mm（常规）、0～6 mm、12 mm（可选）

分 辨 率 ：0.1 μm

测量速度 ：10 次/min （可调）

测试压力 ：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张）

接触面积 ：50mm2（薄膜）；200mm2（纸张）注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制

进样步距 ：0～1000 mm

进样速度 ：0.1～99.9 mm/s

电源 ：AC 220V 50Hz

外形尺寸 ：461 mm(L)× 334 mm(W)× 357 mm(H)

净重 ：32 kg 

    关于薄膜测厚仪的测试原理，测试方法，产品特点等更多资料，这里不多叙述。更多资料，可登陆赛成科技网站进行详细了解。

参考链接：

赛成科技薄膜测厚仪:http://www.cscii.com/product-details/chy-ca-chy