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产品简介

思为YTS540金刚石超声显微镜c-sam无损探伤检测设备，芯片缺陷

思为YTS540金刚石超声显微镜c-sam无损探伤检测设备，芯片缺陷

产品价格：￥49.50

上架日期：2025-11-17 08:17:26

产地：上海上海

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详细说明

产品参数

品牌	SHSIWI
测量参数	260*100mm
测量范围	0.1mm~50mmN
电源	220V
分辨率	1μmmm
颜色	白
重量	100kg
频率范围	10-110MHz
安装方式	手动
工作温度	20℃
适用范围	0μm~4000μm
加工定制	是
外形尺寸	7507001350mm
可售卖地	全国
类型	超声扫描显微镜
型号	金刚石YTS540

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上海思为仪器制造有限公司

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