产品简介
QFN82(8*8)-0.35芯片测试座用于老化老炼烧录性能调试失效分析
QFN82(8*8)-0.35芯片测试座用于老化老炼烧录性能调试失效分析
产品价格:¥436.00
上架日期:2025-05-07 01:04:22
产地:广东深圳
发货地:广东深圳
供应数量:不限
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详细说明
    产品参数
    型号QFN82(8*8)-0.35-0091TGH
    封装/规格插件
    类型DIP
    间距0.35
    总针脚数82 1
    圆孔/方孔圆孔
    触头镀层
    工作温度范围-45~155℃
    包装盒装
    认证机构CE
    最小包装量1
    数量1
    封装QFN
    批号以出货为准
    品牌ANDK

    QFN82-0.35-8*8-0091TGH芯片测试座
    1.引脚:82 signal Pin 1 GND;
    2.间距:0.35mm
    3.尺寸:8*8mm
    4.Insulation Resistance:1000MΩ At 500V DC
    5.Dielectic Withstanding Voltage:700V AC @ 1Min
    6.Contact Resistance:≤50mΩ@10mA/20mV(initial)
    7.Temperature:-45~155℃
    8.Current Rating:1A Max.









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