产品简介
梅特勒电子天平XS3DU,金山电子天平维修销售
梅特勒电子天平XS3DU,金山电子天平维修销售
产品价格:¥0
上架日期:2012-06-12 21:19:38
产地:上海
发货地:上海
供应数量:不限
最少起订:1台
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详细说明

    生产厂家:瑞士梅特勒托利多|上海梅特勒 

    校准方式 :内部校准

    精度0.01mg

    称量范围3.1g

    精度 :0.001mg

    称量范围 :0.8g

       来电优惠

    梅特勒-托利多XS3DU微量天平具有卓越的称量性能,完全满足基础称量应用:在800 mg的精细量程范围内提供1 μg的可读性。具有同类产品中最佳的重复性可低至0.8 μg,是获得理想的称量可靠性的关键,避免不必要的重复测试,显著地降低了样品和时间的浪费。
    梅特勒-托利多XS3DU微量天平专为提高称量效率和可靠性而设计。
    标准配置
    内置称量应用程序
    TouchScreen触摸屏,方便天平称量和参数设置
    SmartTrac彩色动态图形显示器:图形称量辅助,跟踪称量范围和公差
    可设置多达10个特定功能的快捷键
    可定义3个的信息,用于用户和样品标识
    内置RS232C和两个辅助接口;用于连接键盘或ErgoSens外接红外感应器选件,实现无需用手接触的称量操作
    第二接口选件插槽;例如LocalCAN,以太网,RS232MiniMettler,蓝牙或PS/2等接口选件
    手动开关门的玻璃防风罩
    可更换的显示屏保护盖
    下挂钩称量
    具有过载保护的称量传感器
    显示多种质量单位
    差重称量应用程序
    计件和百分比称量应用程序
    统计应用程序
    技术指标
    极限值
    XS3DU 双量程
    最大称量值
    3.1 g
    可读性
    0.01 mg
    最大称量值
    0.8 g
    可读性
    0.001 mg
    重复性(sd) - 加载处
    0.006 mg
    低加载(加载处)
    0.005 mg (0.2 g)
    重复性(sd) - 加载处
    0.001 mg
    低加载(加载处)
    0.0008 mg (0.2 g)
    线性误差
    0.004 mg
    四角误差(加载处)1)
    0.005 mg (2 g)
    典型值 4)
    典型重复性(sd
    0.0005 mg +1.2 x (10–7)•R_gr
    典型微分非线性(sd
    √2x(10-12)g·R_nt
    典型微分四角误差(sd
    1.2 x (10–6)•R_nt
    典型灵敏度偏移(sd2)
    3 x (10–6)•R_nt
    典型最小称量值* (@ U=1 %, 2 sd)
    0.1 mg+2.4 x (10–6)•R_gr
    典型稳定时间
    < 6 sec 
    稳定时间
    < 10 sec
    1) 根据OIML R76
    2) 1030°C的温度范围内
    3) 第一次安装,使用proFACT校准,灵敏度稳定性
    4) 能用于估计不确定度 sd=标准偏差 Rgr=毛重 Rnt=净重(样品质量) a=
    重复性和最小称量值可以通过以下措施得以改进:选择适当的称量参数设置,选择合适的天平放置位置,使用较小的去皮容器。

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