无损膜厚仪、无损镀层测厚仪、X射线镀层测厚仪、荧光膜厚仪
德国菲希尔Fischer X-RAY XDL X射线无损荧光镀层厚度测试仪
一、仪器介绍
频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的产品。能通过“应用工具箱"(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使应用的校准简单化画中画测试件查看和数据显示,带快速移动焦距功能放大试件图像;计算机生成的刻度化的瞄准十字星,并有X-射线光束大小指示器(光束的大小取决于测量的距离,见背面)图形化的用户界面,测试件的图像显示可插入于测试报告中 对试件与视准器之间的距离进行视觉控制的校正(DCM方法)范围可达80mm(3.2〞)
典型的应用范围如下:
单一镀层:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。
二元合金层:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。
三元合金层:例如Ni上的AuCdCu合金。
双镀层:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。
双镀层,其中一个镀层为合金层:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。
最多24种镀层(使用WinFTM® V.6软件)。
分析多达4种(或24种-使用V.6软件)元素。
分析电镀溶液中的金属离子浓度。
测量模式用于:
单、双及三层镀层系统
双元及三元合金镀层的分析和厚度测量
双层镀层,其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析(两层的厚度和合金成分都能被测量)
能分析多达四种金属成分的合金,包括金的开数分析的特殊功能。
对电镀溶液的分析能力可达包含一或二种阳离子的电镀液。
三、技术参数:
1.Fischerscope X-RAY XDL是采用根据技术标准DIN50987,ISO3497和ASTM B568的X-射线荧光测试方法;
2.原始射线从上至下;
3.X-射线管高压设定可调节至最佳的应用:50kV,40kV或30kV;
4.单个0.3mm直径(12 mils)的标准视准器,在附加费用的基础上可选择0.05×0.3 mm(2×12 mil)带槽视准器;或直径0.1mm;或直径0.2mm;或0.4X0.4mm方形。
5.测量箱外部尺寸:(高×宽×深)650 mm×570 mm×740 mm(26〞×22〞×29〞),重量大约为105kg(120lbs);
6.带槽箱体的内部尺寸:(高×宽×深)300 mm×460 mm×500 mm(12〞×18〞×20〞)带向上回转箱门;
7.嵌入式固定的测试件支承板,需要时可移去以适用于大件的超出尺寸的测试工件。
联系人:黄先生 13599900411 QQ交流群:38244438