xrf元素分析仪

xrf元素分析仪thick800a产品介绍：

是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型高端仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。

xrf元素分析仪thick800a性能优势：

精密的三维移动平台
卓越的样品观测系统
先进的图像识别 
轻松实现深槽样品的检测
四种微孔聚焦准直器，自动切换
双重保护措施，实现无缝防撞
采用大面积高分辨率探测器，有效降低检出限，提高测试精度
全自动智能控制方式，一键式操作!
开机自动退出自检、复位 
开盖自动退出样品台，升起z轴测试平台，方便放样 
关盖推进样品台，下降z轴测试平台并自动完成对焦 
直接点击全景或局部景图像选取测试点 
点击软件界面测试按钮，自动完成测试并显示测试结果

xrf元素分析仪thick800a技术指标：

分析元素范围：从硫（s）到铀（u） 
同时检测元素：多24个元素，多达五层镀层
检出限：可达2ppm，薄可测试0.005μm
分析含量：一般为2ppm到99.9% 
镀层厚度：一般在50μm以内（每种材料有所不同）重复性：可达0.1%
稳定性：可达0.1%
sdd探测器：分辨率低至135ev
采用先进的微孔准直技术，小孔径达0.1mm，小光斑达0.1mm
样品观察：配备全景和局部两个工业高清摄像头
准直器：0.3×0.05mm、ф0.1mm、ф0.2mm与 
ф0.3mm四种准直器组合
仪器尺寸：690（w）x 575（d）x 660（h）mm
样品室尺寸：520（w）x 395（d）x150（h）mm
样品台尺寸：393(w)x 258 (d）mm
x/y/z平台移动速度：额定速度200mm/s 速度333.3mm/s
x/y/z平台重复定位精度 ：小于0.1um
操作环境湿度：≤90%
操作环境温度 15℃～30℃

详情点击：天瑞仪器股份有限公司 http://www.chem17.com/st387457/product_30324317.html  
http://www.rohs-xrf.com/parentlist-1706296.html