LCC48-1.0收发光模块测试座支持10Gbps即VCSEL阵列低功耗高速数据
MSOP10转DIP10老化测试座带板编程烧录座镀金耐高温0.5间距
QFN88-0.35下压老化座支持V831AICameraSoC芯片8x8mm老化测试
QFN40-0.5微小型测试座支持6x6mm用于MLF\/QFN封装芯片老化测试
DFN6-0.65-2x2芯片烧录座用于此类芯片固件烧录调试校验测试
定制QFJCLCC24带引脚陶瓷芯片载体测试夹具EPROM读写座老化测试座
PLCC28-1.27-12.45x12.45烧录座老化座IC烧录编程测试座可靠测
QFP100-0.65翻盖老化座国产替代本体尺寸14x20带脚17.9x23.9mm
WLCSP6-0.4测试座0.792*1.192mmLDOregulatorCMOS芯片老化验证
DFN8-2.08X8翻盖老化座LFPAKHEMT芯片功率器件低阻抗大电流测试